導(dǎo)電粒子壓痕檢查解決方案
針對(duì)LCD OLED 屏幕導(dǎo)電粒子檢查，菲涅爾光學(xué)利用自身光學(xué)優(yōu)勢(shì)，提供一整套成像硬件支持。
掩模版缺陷檢測(cè)解決方案
針對(duì)5um線寬掩模版缺陷檢查，菲涅爾光學(xué)利用自身光學(xué)優(yōu)勢(shì)。提供整套光學(xué)成像硬件支持！
PCB板缺陷檢查量測(cè)
運(yùn)用1倍16K線掃遠(yuǎn)心鏡頭的大靶面特性，可以搭配dalsa彩色相機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板的快速掃描。
圖形化晶圓缺陷檢查方案
遠(yuǎn)心鏡頭，線掃鏡頭，晶圓缺陷檢查
SIC,GaN襯底缺陷檢測(cè)
SIC,GaN襯底缺陷檢測(cè),微分干涉顯微鏡
地址：濰坊市高新區(qū)高新大廈1319室
郵箱：kevin0727@fresnel-china.com
